近年來，顆粒測試技術進展飛快，粒度測試方法已達百余種。根據測試原理的不同，主要分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等幾大類。

　　因具備測量粒度范圍寬、速度快、精度高、操作方便、易于維護等優點，激光粒度儀已逐漸成為顆粒粒度測試領域中的主流產品。但是由于顆粒測試需求的多樣性，顆粒市場細分已露端倪。

　　隨著納米科技的發展，納米顆粒測試越來越受到重視，用于納米顆粒測試的動態光散射技術突飛猛進，光子相關技術也炙手可熱，國外廠商已研發出動態光散射激光粒度儀的成型產品，國內部分廠家已成功研制出基于FPGA技術的數字相關器技術，國產動態光散射納米粒度儀也將紛紛問世。

　　另外，隨著人們對產品質量要求的不斷提高及工業生產過程自動化的逐漸發展，在線顆粒測試技術將成為顆粒行業競爭的焦點，而國內在這方面還處于空白。

　　粒度儀新品的詳細內容見如下各分類。

　　一、納米粒度儀

SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀

HORIBA，LTD株式會社堀場制作所北京事務所　上市時間：2010年3月

　　**點：

　　1、 超小體積設計，超寬動態光散射測量范圍：0.3nm～8000nm。

　　2、 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量，全方位表征單一體系納米尺度粒子。

　　3、雙光路系統(90°和173°)適用于更寬濃度范圍的樣品測量;在單一納米粒子專用光學系統中，采用更低雜散光90°檢測光學系統。

　　4、 從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原液狀態下取樣測定。

　　5、 微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨自研發，可以測定取樣調查僅100μL的 Zeta 電位。

VASCO系列納米粒度儀

美國麥克儀器公司　上市時間：2010年2月

　　**點：

　　1、 基于法國石油研究所(IFP)****技術，VASCO粒度分析儀的工作原理是背散射光的動態光散射技術。

　　2、 結合了背散射光檢測器和控制樣品厚度的性能，可避免多散射的影響，實現在高濃度混濁懸浮液中的準確測量。

　　3、 另外，通常情況下不需要稀釋樣品，樣品可連續測量。

　　4、 ****技術，無消耗部件，易于清洗。

　　二、激光粒度儀

激光粒度分析儀Easizer30(易賽30)

珠海歐美克儀器有限公司  上市時間：2010年1月

　　**點：

　　Easizer30(易賽30)激光粒度分析儀*大的特點是完全自動化。

　　1、 操作極其方便：只需按下“自動測量”鍵，全部測量過程就能自動完成，避免了人為因素所造成的結果偏差。

　　2、 可預置*佳測試模式：針對各種不同的樣品，可預置不同的*佳測試參數組合，使用戶能方便地獲得*可靠、高再現性的測試結果。

　　3、 儀器狀態自檢：確保儀器在正常狀態下工作。一旦出現故障，也方便維修和維護。

　　4、 多種進樣系統：方便切換，包括普通型、微量型和耐腐蝕型，滿足多種測試需求。

　　三、顆粒計數器

PLD-0201 顆粒計數器(Particle Counter)

普洛帝中國服務中心/普洛帝測控技術有限公司  上市時間：2010年1月

　　**點：

　　1、 采用光阻法(遮光式)原理，適用于對油液、有機液體、聚合物溶液等進行固體顆粒污染檢測。

　　2、內置油液GB/T14039-2002(ISO4406：1999)液壓傳動油液固體顆粒污染等級代號標準和NAS1638油液潔凈度等級標準。還可根據用戶的要求，內置用戶所需標準。

　　3、 內置閾值-粒徑曲線，可設定通道粒徑值。精密柱塞泵實現進樣速度恒定和進樣體積**的控制。

　　4、 PULL 8.0軟件有多種語言版本，處理功能豐富，可根據標準給出油液等級，繪制分布直方圖等。

　　5、 引入第三方公正質檢機構普研檢測，實現質檢、生產、研發、銷售專業化運作。